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影響三豐數(shù)顯電子卡尺測量結(jié)果的誤差因素

更新時間:2023-02-15      點擊次數(shù):721
   三豐數(shù)顯電子卡尺是測量工件平面及平行特征或內(nèi)/外徑的常用“利器”。但遇到測量復(fù)雜形狀的工件時,如曲面或狹窄的溝槽等,標準的通用量具可能就難以到達準確的測量位置,選擇專用的非標量具則相對更簡便、更經(jīng)濟。要正確使用卡尺還有很多的注意事項,我們就從影響測量結(jié)果的誤差因素講起。
 
  誤差因素
 
  在使用卡尺測量時,存在著多種引起誤差的因素,如視差、結(jié)構(gòu)不符合阿貝原理引起的誤差、卡尺和工件之間的溫度差異引起的熱膨脹影響等等。
 
  除此以外,因卡尺無定壓裝置,測量時,適合的,均勻的測力難以把握,也是產(chǎn)生誤差的又一因素。
 
  卡尺的結(jié)構(gòu)不符合阿貝原理
 
  卡尺的讀數(shù)軸和測量軸因不同軸而不符合阿貝原理,所以在使用卡尺時,用量爪的根部或頂端進行測量,會存在加大測量誤差的危險。測量時需注意被測工件盡可能地接近尺身部分(讀數(shù)軸)。
 
  讀取刻度的視差
 
  當檢查游標刻度線是否與主要刻度分線對齊時,直視游標刻度線。
 
  游標尺與主尺刻度面之間存在著階差高度,這容易引起讀數(shù)誤差。如下圖所示,如果從斜方向觀察游標刻度線,會產(chǎn)生圖中ΔX所示誤差。為了避免這種因素的影響,JIS規(guī)格中規(guī)定階差高度(H)不應(yīng)大于0.3mm。
 
  

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