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影響三豐數(shù)顯電子卡尺測(cè)量結(jié)果的誤差因素

更新時(shí)間:2023-02-15      點(diǎn)擊次數(shù):789
   三豐數(shù)顯電子卡尺是測(cè)量工件平面及平行特征或內(nèi)/外徑的常用“利器”。但遇到測(cè)量復(fù)雜形狀的工件時(shí),如曲面或狹窄的溝槽等,標(biāo)準(zhǔn)的通用量具可能就難以到達(dá)準(zhǔn)確的測(cè)量位置,選擇專用的非標(biāo)量具則相對(duì)更簡(jiǎn)便、更經(jīng)濟(jì)。要正確使用卡尺還有很多的注意事項(xiàng),我們就從影響測(cè)量結(jié)果的誤差因素講起。
 
  誤差因素
 
  在使用卡尺測(cè)量時(shí),存在著多種引起誤差的因素,如視差、結(jié)構(gòu)不符合阿貝原理引起的誤差、卡尺和工件之間的溫度差異引起的熱膨脹影響等等。
 
  除此以外,因卡尺無(wú)定壓裝置,測(cè)量時(shí),適合的,均勻的測(cè)力難以把握,也是產(chǎn)生誤差的又一因素。
 
  卡尺的結(jié)構(gòu)不符合阿貝原理
 
  卡尺的讀數(shù)軸和測(cè)量軸因不同軸而不符合阿貝原理,所以在使用卡尺時(shí),用量爪的根部或頂端進(jìn)行測(cè)量,會(huì)存在加大測(cè)量誤差的危險(xiǎn)。測(cè)量時(shí)需注意被測(cè)工件盡可能地接近尺身部分(讀數(shù)軸)。
 
  讀取刻度的視差
 
  當(dāng)檢查游標(biāo)刻度線是否與主要刻度分線對(duì)齊時(shí),直視游標(biāo)刻度線。
 
  游標(biāo)尺與主尺刻度面之間存在著階差高度,這容易引起讀數(shù)誤差。如下圖所示,如果從斜方向觀察游標(biāo)刻度線,會(huì)產(chǎn)生圖中ΔX所示誤差。為了避免這種因素的影響,JIS規(guī)格中規(guī)定階差高度(H)不應(yīng)大于0.3mm。
 
  

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